煙(yan)塵(chen)儀(yi)的結果(guo)和(he)哪(na)些(xie)方(fang)面有關

　　煙(yan)塵(chen)儀(yi)是(shi)壹種(zhong)用(yong)於(yu)實時監測空氣中(zhong)顆(ke)粒物(wu)濃度(du)的精密儀(yi)器，廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)工(gong)業排(pai)放(fang)監測、環境空氣質(zhi)量(liang)評估、職業(ye)健(jian)康防(fang)護(hu)等(deng)領(ling)域(yu)。其測(ce)量(liang)結果(guo)的準確性(xing)受多(duo)種(zhong)因素(su)影(ying)響(xiang)，包(bao)括環(huan)境條件(jian)、儀(yi)器性(xing)能、采樣方(fang)式(shi)、顆粒物(wu)特(te)性(xing)及人(ren)為(wei)操(cao)作(zuo)等(deng)。以下從多(duo)個(ge)維(wei)度(du)對(dui)煙(yan)塵(chen)儀(yi)的影響(xiang)因(yin)素(su)進行系統分(fen)析(xi)。

　　壹(yi)、環(huan)境因素(su)

　　1. 溫(wen)度(du)與(yu)濕度(du)

　　- 溫(wen)度(du)影(ying)響：高溫環(huan)境可能導(dao)致(zhi)揮(hui)發性(xing)顆粒物(wu)(如有機(ji)化(hua)合(he)物)二(er)次(ci)揮(hui)發，改(gai)變(bian)顆(ke)粒物(wu)粒徑(jing)分(fen)布(bu)；低溫(wen)環境則(ze)可能使半(ban)揮(hui)發性(xing)物質(zhi)冷凝(ning)，導(dao)致(zhi)測(ce)量值偏高。例(li)如，燃(ran)煤(mei)鍋爐(lu)排放(fang)的煙(yan)氣溫(wen)度(du)可達200℃以上(shang)，若未對(dui)煙(yan)塵(chen)儀(yi)進行溫控(kong)處(chu)理(li)，傳(chuan)感(gan)器可能因過(guo)熱失效。

　　- 濕(shi)度(du)影(ying)響：高濕度(du)環(huan)境下，顆(ke)粒物(wu)易(yi)吸濕(shi)膨(peng)脹(zhang)，導(dao)致(zhi)光散射強(qiang)度(du)增(zeng)強(qiang)，造成(cheng)測(ce)量(liang)值偏大；低濕度(du)環(huan)境下，靜(jing)電(dian)作(zuo)用(yong)可能使顆粒物(wu)聚(ju)集，影響采樣代表性(xing)。此(ci)外，水(shui)分(fen)凝結(jie)可能堵塞采樣管(guan)路或汙染光學(xue)鏡頭(tou)。

　　2. 氣壓與(yu)氣流(liu)擾(rao)動(dong)

　　- 氣壓變(bian)化(hua)會(hui)影響(xiang)氣體(ti)體(ti)積流(liu)量，若煙(yan)塵(chen)儀(yi)未配(pei)備(bei)壓力(li)補(bu)償(chang)功(gong)能，可能導(dao)致(zhi)采樣流(liu)量(liang)偏差。例(li)如，在高海拔地(di)區，氣壓降(jiang)低可能使實際采樣量(liang)低(di)於標定(ding)值。

　　- 強(qiang)風(feng)或(huo)湍流環(huan)境可能破(po)壞采樣點(dian)的均(jun)勻性(xing)，導(dao)致(zhi)“短路”效應(ying)(未經(jing)過濾(lv)的氣體(ti)直接(jie)進入儀(yi)器)，或使大顆粒物(wu)因(yin)慣性(xing)沈降(jiang)而(er)未被(bei)捕(bu)獲。

　　二(er)、儀(yi)器自身因素(su)

　　1. 校準與標(biao)定(ding)

　　- 煙(yan)塵(chen)儀(yi)的測量(liang)原(yuan)理(li)多(duo)基於光散射法、β射線(xian)吸收法或(huo)微(wei)量(liang)振(zhen)蕩天(tian)平法(fa)，不同(tong)方法(fa)對(dui)校準依(yi)賴(lai)度(du)高。例(li)如，光散射法需使用(yong)標(biao)準粒子(zi)(如聚丙(bing)烯(xi)酸鹽(yan))進行校準，若校準周期(qi)過長(chang)或(huo)標(biao)準物質(zhi)失效，可能導(dao)致(zhi)測(ce)量誤(wu)差(cha)。

　　- β射線(xian)法需(xu)定(ding)期(qi)更換(huan)放(fang)射源(如銫(se)-137)，源(yuan)衰減(jian)會(hui)直接(jie)影響(xiang)靈(ling)敏度(du)。

　　2. 傳(chuan)感(gan)器性(xing)能與老(lao)化(hua)

　　- 光學(xue)傳感(gan)器(如激光二(er)極(ji)管(guan)、光電(dian)探(tan)測器)可能因長(chang)期(qi)使用(yong)導(dao)致(zhi)亮度(du)衰減(jian)或靈(ling)敏度(du)下降(jiang)，需(xu)定(ding)期(qi)維護(hu)。例(li)如，鏡頭(tou)積灰(hui)或(huo)油汙會(hui)降低(di)光通量，導(dao)致(zhi)散射信號減(jian)弱。

　　- 電(dian)子(zi)元件(jian)老(lao)化(hua)(如放(fang)大器漂移、ADC轉換(huan)誤差(cha))可能引(yin)入系統噪(zao)聲，影響低濃度(du)測(ce)量精度(du)。

　　3. 量(liang)程(cheng)與分(fen)辨(bian)率(lv)限(xian)制

　　- 煙(yan)塵(chen)儀(yi)的量程(cheng)通常分(fen)為(wei)低(di)濃度(du)(0-100 mg/m³)和(he)高濃度(du)(0-2000 mg/m³)檔(dang)位(wei)，超(chao)出量程(cheng)時可能產生(sheng)飽和(he)失真(zhen)。例(li)如，在粉塵(chen)暴虐(nue)環境下，若(ruo)未及時(shi)切換(huan)量(liang)程(cheng)，可能損壞傳(chuan)感(gan)器。

　　- 分(fen)辨(bian)率(lv)不足(zu)時(shi)，低(di)濃度(du)微(wei)小波(bo)動(dong)可能被(bei)忽(hu)略(lve)，例(li)如環境背景(jing)值(10-20 μg/m³)的監測需要(yao)分(fen)辨(bian)率(lv)達1 μg/m³級別。

　　三、采樣方(fang)式(shi)與操(cao)作(zuo)規範

　　1. 采樣位(wei)置與(yu)布(bu)點

　　- 采樣點(dian)選(xuan)擇(ze)需遵(zun)循代表性(xing)原(yuan)則(ze)。例(li)如，煙(yan)囪(cong)監測時，若(ruo)采樣口(kou)靠(kao)近煙(yan)道彎(wan)頭(tou)或渦流區，可能采集到非典型(xing)濃度(du)的顆粒物(wu)。

　　- 多(duo)點(dian)采樣時(shi)，各(ge)點(dian)流(liu)量不均(jun)衡(heng)可能導(dao)致(zhi)數(shu)據偏(pian)差，需使用(yong)流(liu)量(liang)分(fen)配(pei)器或等(deng)速(su)采樣裝(zhuang)置。

　　2. 采樣流(liu)量(liang)與時間

　　- 流(liu)量(liang)過高可能帶(dai)走(zou)過(guo)多(duo)小顆(ke)粒或(huo)導(dao)致(zhi)傳(chuan)感(gan)器過載(zai)，流(liu)量過低(di)則(ze)可能損失大(da)顆粒(如慣性(xing)沈降(jiang))。例(li)如，光散射法推(tui)薦(jian)流量為(wei)1-2 L/min，β射(she)線(xian)法需(xu)穩(wen)定(ding)流量(liang)以保(bao)證(zheng)沈積(ji)效率(lv)。

　　- 采樣時(shi)間過(guo)短(如秒級)可能無法(fa)反(fan)映瞬(shun)時波(bo)動(dong)，過長(chang)(如小時(shi)級(ji))則(ze)可能掩(yan)蓋峰值濃度(du)。

　　3. 濾(lv)膜(mo)與(yu)耗材管(guan)理(li)

　　- 濾(lv)膜(mo)材質(zhi)(如PTFE、玻璃(li)纖(xian)維)需與(yu)顆粒物(wu)化(hua)學(xue)性(xing)質匹(pi)配(pei)，否(fou)則(ze)可能發生(sheng)吸附(fu)或(huo)反應(ying)。例(li)如，酸性(xing)氣體(ti)可能腐(fu)蝕金屬(shu)濾(lv)膜(mo)托(tuo)架(jia)。

　　- 濾(lv)膜(mo)堵塞或破(po)損會(hui)改(gai)變(bian)氣流(liu)阻(zu)力(li)，導(dao)致(zhi)流(liu)量偏(pian)差(cha)，需定(ding)期(qi)更換(huan)並(bing)檢(jian)查(zha)密封性(xing)。

　　四、顆粒物(wu)特(te)性(xing)影響(xiang)

　　1. 粒徑(jing)分(fen)布(bu)

　　- 不同(tong)原(yuan)理(li)的煙(yan)塵(chen)儀(yi)對粒徑(jing)敏(min)感(gan)度(du)不同(tong)。例(li)如，光散射法對0.1-10 μm顆(ke)粒敏(min)感(gan)，但對(dui)超(chao)細顆粒(<0.1 μm)或(huo)粗(cu)顆粒(>10 μm)響(xiang)應(ying)較(jiao)低(di)；β射線(xian)法對(dui)全粒徑(jing)段響(xiang)應(ying)較(jiao)均(jun)勻，但大(da)顆(ke)粒可能因沈(chen)積不均(jun)勻導(dao)致(zhi)誤(wu)差。

　　2. 化(hua)學(xue)組(zu)成與(yu)折(zhe)射率(lv)

　　- 顆粒物(wu)的折(zhe)射率(lv)直接(jie)影響(xiang)光散射強(qiang)度(du)。例(li)如，碳黑(hei)(折(zhe)射率(lv)高)比硫(liu)酸鹽(yan)(折(zhe)射率(lv)低)產(chan)生(sheng)更強(qiang)的散射信號，相(xiang)同(tong)質量(liang)濃度(du)下可能出現測(ce)量(liang)值差異。

　　- 吸光性(xing)顆粒(如黑碳(tan))可能吸收激光能量，導(dao)致(zhi)光散射法低估濃度(du)。

　　3. 形(xing)狀與密度(du)

　　- 非球形(xing)顆粒(如纖維(wei)狀礦物(wu)塵(chen))的散射特性(xing)與球(qiu)形校準顆粒差(cha)異(yi)顯著(zhu)，可能引(yin)入誤差(cha)。

　　- 高密度(du)顆(ke)粒(如金屬(shu)氧(yang)化(hua)物(wu))在相(xiang)同(tong)體積(ji)濃度(du)下質(zhi)量(liang)濃度(du)更(geng)高，若儀(yi)器未校準密度(du)參數(shu)，可能導(dao)致(zhi)結(jie)果(guo)偏差(cha)。

　　五(wu)、人(ren)為(wei)與(yu)維護因素(su)

　　1操(cao)作(zuo)規範性(xing)

　　- 未按(an)規程(cheng)預熱儀(yi)器、錯(cuo)誤(wu)設置參數(shu)(如量程(cheng)、采樣時(shi)間)或(huo)忽(hu)視(shi)環(huan)境條件(jian)(如直接(jie)暴露於(yu)陽(yang)光下)均(jun)會(hui)導(dao)致(zhi)數(shu)據異(yi)常。

　　- 數(shu)據記(ji)錄(lu)不完(wan)整(zheng)(如缺(que)失溫(wen)濕度(du)補(bu)償(chang)參數(shu))可能影響(xiang)後續分(fen)析(xi)。

　　2. 維(wei)護(hu)與清(qing)潔

　　- 光學(xue)鏡頭(tou)需定(ding)期(qi)用(yong)無塵(chen)布(bu)擦(ca)拭(shi)，避(bi)免(mian)油汙或灰(hui)塵(chen)積累(lei)；采樣管(guan)路需防(fang)止堵塞，尤其(qi)在高濕或(huo)高塵(chen)環境。

　　- 長(chang)期(qi)停(ting)用(yong)時(shi)需(xu)斷電(dian)並(bing)存放(fang)於幹燥箱，避(bi)免(mian)傳感(gan)器受潮或黴變。

　　3.幹(gan)擾(rao)物質與交叉汙染

　　- 氣態(tai)汙染物(wu)(如SO₂、NOₓ)可能與顆(ke)粒物(wu)發(fa)生(sheng)反應(ying)(如形成(cheng)硝(xiao)酸鹽(yan))，改(gai)變(bian)粒徑(jing)或(huo)化(hua)學(xue)組(zu)成。

　　- 油煙(yan)、揮(hui)發性(xing)有機(ji)物(wu)(VOCs)可能附著(zhe)於采樣管(guan)路或傳(chuan)感(gan)器，造成(cheng)假(jia)陽(yang)性(xing)。